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IC電磁發射測試系統
IEC61967-6
EC61967-6磁場探頭法是通過測試PCB板導線上的電流來評定集成電路的電磁發射所組成的IC電磁發射測試系統。IC電磁發射測試系統是芯片引腳通過PCB板上的導線與電源或外圍電路相連，因而它產生的射頻電流可用一個靠近的磁場探頭獲取，由電磁感應定律，探頭輸出端的電壓正比于導線上的射頻電流。
IC電磁發射測試系統
TEM小室法
依據IEC 61967-2的IC電磁發射測試系統-TEM小室法其實就是一個變型的同軸線，由一塊扁平的芯板作為內導體，外導體為方形，兩端呈錐形向通用的同軸器件過渡，一頭連接同軸線到測試接收機，另一頭連接匹配負載。IC電磁發射測試系統中的小室的外導體頂端有一個方形開口用于安裝測試電路板。
IC測試板
HS61967-1
依據IEC 61967-1 IC測試板，由接地平面、IC適配器、連接板等組成。 集成電路電磁兼容測試標準，目前出版的有集成電路電磁發射測試標準IEC61967和集成電路電磁抗擾度標準IEC62132以及IEC 62215。
IC電磁發射測試系統
1Ω/150Ω直接耦合法
依據IEC 61967-4的IC電磁發射測試系統-1Ω/150Ω直接耦合法是根據集成電路電磁兼容測試標準，目前出版的有集成電路電磁發射測試標準IEC61967和集成電路電磁抗擾度標準IEC62132 。依據IEC 61967-4的IC電磁發射測試系統-1Ω/150Ω直接耦合法，用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發射測試。
IC脈沖群抗擾度測試系統
HS62215
IC脈沖群抗擾度測試系統是根據集成電路電磁兼容的測試標準設計的測試系統，IC脈沖群抗擾度測試系統主要有電磁發射測試標準IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發射測試）、電磁抗擾度標準IEC 62132（用于頻率為150kHz到1GHz的集成電路射頻抗擾度測試）以及脈沖抗擾度標準IEC 62215。
四軸定位IC掃描儀
ICS 105 set
ICS 105型四軸定位IC掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。ICS 105 set 四軸定位IC掃描儀還可以單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內的測量，空間分辨率可達50μm。
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