如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱:
IC電磁發射測試系統
產品型號:
IEC61967-6
產品展商:
Langer
產品文檔:
無相關文檔
簡單介紹
EC61967-6磁場探頭法是通過測試PCB板導線上的電流來評定集成電路的電磁發射所組成的IC電磁發射測試系統。IC電磁發射測試系統是芯片引腳通過PCB板上的導線與電源或外圍電路相連,因而它產生的射頻電流可用一個靠近的磁場探頭獲取,由電磁感應定律,探頭輸出端的電壓正比于導線上的射頻電流。
IC電磁發射測試系統
的詳細介紹
IC電磁發射測試系統特點:
IC電磁發射測試系統詳細說明:
依據IEC 61967-6的IC電磁發射測試系統
傳導發射測量方法——磁場探頭法
IEC61967-6磁場探頭法是通過測試PCB板導線上的電流來評定集成電路的電磁發射。芯片引腳通過PCB板上的導線與電源或外圍電路相連,因而它產生的射頻電流可用一個靠近的磁場探頭獲取,由電磁感應定律,探頭輸出端的電壓正比于導線上的射頻電流。磁場探頭的結構細節和推薦尺寸在標準中有詳細描述,測試示意圖如下所示:
全套測試系統,由以下幾個部分組成:
標準對頻譜儀或接收機的要求:
·頻率范圍覆蓋150kHz-1GHz
·峰值檢波、帶*大值保持功能
·分辨率帶寬的設置如下表:
測量儀器
|
頻段
|
150kHz-30MHz
|
30MHz-1GHz
|
頻譜分析儀(3dB)
|
10kHz
|
100kHz
|
接收機(6dB
|
9kHz
|
120kHz
|
R&S® ESL EMI測試接收機,是一臺能依據*新標準進行電磁干擾測試的EMI接收機,同時也是一臺全功能的頻譜分析儀。
ESL3 EMI測試接收機,完全符合IEC 61967-4標準要求,同時還能對設備級產品進行電磁兼容預測試。
2.測試電路板
對集成電路的EMC測試,被測IC需要安裝在一塊印制電路板上,為提高測試的方便性與重復性,標準規定了電路板的規格,標準電路板的大小與TEM小室頂端的開口大小匹配。
GND22-04測試電路板,完全依據集成電路電磁兼容測試要求設計,由下列部件構成:
·測試板
·GND平面GND22-04
·連接板CB 0706
·IC適配器
·控制單元
3.Probe 1601H-場探頭以及Probe 1701E-場探頭
Probe 1601,用于近場測量IC產生的磁場,具有50歐姆輸入,可連接磁場環(H-field loop),磁場環是可旋轉的,高度可調節。探頭的50歐姆輸出接口,可連接頻譜分析儀或者EMI測試接收機。
近場測量通過IC的電場。用探頭測量到的電壓是對IC發射的測量,它被電場(E-場)激勵。
探頭的RF電壓參數是帶有集成前置放大器,輸入電阻為1.5 kΩ。輸入連接到一個25 x 25 mm 的測量電極收集電場信號。耦合面高度可調可轉換。